Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten
Verfasser: pr-gateway on Friday, 2 February 2018Infrarottechnologie auf dem Vormarsch
Durch die zunehmende Miniaturisierung und Dichte elektronischer Bauteile auf Leiterplatten setzen immer mehr Hersteller bei der thermischen Qualitätsprüfung auf Wärmebildkameras zur Temperaturmessung. In kurzer Zeit lässt sich das thermische Verhalten einzelner Bauteile und Komponenten bestimmen, Fehler sowie Schwachstellen werden rechtzeitig identifiziert und vermieden.
Die neu entwickelte Mikroskopoptik für die Infrarotkameras IR 450 und IR 640 ermöglicht die noch genauere und zuverlässigere Temperaturmessung an Leiterplatten. Dabei können sowohl die gesamte Leiterplatte als auch detaillierte Nahbereiche mit einer Auflösung von 28μm fokussiert werden. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist zwischen 80 und 100mm variierbar. Die im Lieferumfang enthaltene hochwertige Tischhalterung erlaubt eine einfache, dabei stets präzise Feinjustierung der Kamera.